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薄膜测厚仪CH-1-S

型号:CH-1-S

更新时间:2016-03-08

简要描述:

薄膜测厚仪CH-1-S

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详细先容

薄膜测厚仪CH-1-S

类型 薄膜测厚仪 品牌  
型号 ch-1-s 测量范围 0-1(mm)
显示方式 显示 电源电压 0(V)
外形尺寸 150(mm)    

、产品概况 
    本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。
    尤其适用于薄膜厚度薄对厚度要求严格的产品。是实验室常用的工具。
    本薄膜测厚仪生产参照实行标准GB/T6672-2001。
二、主要技术指标:

1、本品测量范围:(0-1)mm,分辨率:0.001mm,

2、测厚仪工作温度: 0℃~+40℃, 储运温度:-20℃~+70℃。
                     环境相对湿度: ≤80%
    本仪器数据输出、意位置置零、公英制转换、自动断电等功能。
    使用携带方便,作简单。

 


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